– Formabweichung und Rauheit in einem Schritt messen!
Polytec erweitert ihre Gerätefamilie TopMap
Die TopMap-Produktfamilie umfasst die berührungslos arbeitenden, optischen Topografie-Messysteme von Polytec. Für alle Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern wie Ebenheit, Stufenhöhen, Parallelität oder Rauheit bietet das Portfolio kundenspezifische Lösungen. Dabei bestechen unter anderem das große Messfeld, um sogenanntes Stitching (nachträgliches Zusammenfügen mehrerer Einzelbilder) zu umgehen, die telezentrische Optik, um schwer zugängliche Bereiche zu erfassen sowie die exzellente vertikale Auflösung unabhängig von Bildfeldgrößen.
Bereits jetzt erstreckt sich das Angebot der Gerätefamilie von Einstiegslösungen für das Messlabor (TopMap Metro.Lab) über Lösungen für die Fertigungslinie (TopMap In.Line), für mikroskopische Anwendungen (TopMap µ.Lab), in Fertigungslinien integrierbare Punktsensoren zur Abstands- und Rauheitsbestimmung (TopSens) bis hin zum High-End System für eine schnelle Ermittlung von Formabweichungen (TopMapPro.Surf).
Nun wird dieses Portfolio noch um ein All-In-One-System ergänzt (TopMapPro.Surf+) um Formabweichungen und Rauheit auf einen Blick zu bestimmen. Damit sind noch aussagekräftigere und effizientere Qualitätskontrollen auch direkt an der Fertigungslinie möglich, wo gerade Zeit und Maßhaltigkeit wichtige Erfolgsfaktoren sind.
- www.topmap.de
