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Bestimmung der Topographie technischer Ober?ächen und der Haftfestigkeit an beschichteten Bauteilen
Zur Charakterisierung der Topographie sind im Nanometerbereich bevorzugt REM und AFM einzusetzen. Im Mikrobereich haben sich die Weißlichtinterferenzmikroskopie und im Makrobereich die Streifenlichtprojektion bewährt. Als einziges Verfahren zur absoluten Bestimmung der Haftfestigkeit kam bisher das Stirnabzugverfahren zum Einsatz. Zukünftig wird der Zentrifugentest, wie er im Patent DE 102004055621 angemeldet ist, als Alternative zur Verfügung stehen. Bei allen Testverfahren ist es allerdings notwendig, das zu untersuchende System aus Schicht und Substrat und das Beanspruchungsprofil zu beachten, um praxistaugliche Messwerte zu erhalten.
Galvanotechnik, 98 (2007)10, S. 2377-2387, 13 Abb., 2 Tab., 3 Lit.-Hinw. Beck, U.
Characterising the Topography of Technical Surfaces and the Adhesion of Coatings on Components
Characterisation of surface topography in the nanometer region is mostly carried out using SEM and AFM instruments. In the micrometer range, visible light interference microscopy has proved valuable, while in the macro-region, strip-light projection can be used. For measurement of adhesion, the only absolute method until recently, has been the pull-off test. More recently, a centrifugal test has been developed, as described in Patent DE 102004055621, which offers an alternative. In all cases, tests should take into consideration both substrate and coating, and the nature of the likely service requirements, if measurements of practical value are called for.
