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Die Kontrolle von Restverschmutzung auf gereinigten Metalloberflächen mit IR-Kameras

Die immer kleiner und zugleich komplexer werdenden Teile moderner Systeme sind in Bezug auf ihre Funktion relativ anfällig gegen Verschmutzungen. Aus diesem Grund wird die Prüfung der Reinigungsleistung immer wichtiger. Eine Methode, die für Verschmutzungen unterschiedlicher Art von Staub über Lösemittel und Wasser bis hin zu Ober?ächendefekten einsetzbar ist, beruht auf der Auswertung von eingestrahltem Infrarotlicht. Mit dieser Methode wurden beispielsweise Flächenbelegungen von ca. 40 mg/m2 Bariumsulfat, ca. 70 mg/m2 Kohle oder 4 mg/m2 eines organischen Lösemittels (Tetracontan) nachgewiesen. Nachteil ist allerdings, dass für unterschiedliche Stoffe unterschiedliche Kameratypen bzw. zusätzliche Ausrüstungen eingesetzt werden müssen.

Monitoring Residual Surface Soiling on Cleaned Metal Surfaces Using IR Cameras

As the components of so many systems become smaller and more complex, their satisfactory performance depends increasingly on a high level of cleanliness and for this reason, cleanliness testing has become increasingly important. One technique for this, which embraces the complete range of contaminants from dust and particulates, through solvent residues to water, as well as a wide range of surface defects, is based on an analysis of reflected infrared radiated light. Using this approach, contamination levels, for example, of 40mg/m2 barium sulphate, 70mg/m2 carbon of 4mg/m2 of an organic solvent (Tetracontan) could be identi?ed. One drawback, however, is that no single camera can be used for all contaminants, and a range of cameras and accessories, is required.

Fähigkeiten

Substratmaterial


Schichtmaterial


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