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Untersuchung einer plasmabehandelten luftfahrtspezifischen Polyurethanbeschichtung mittels der chemischen Rasterkraftmikroskopie

Bei der chemischen Rasterkraftmikroskopie wird zur Abbildung von Oberflächen im Nanometermaßstab eine chemisch modifizierte Sondenspitze und ein flüssiges Abbildungsmedium verwendet. Die Arbeitsweise und Ergebnisse werden an einer Polyurethanbeschichtung auf einem Aluminiumsubstrat aufgezeigt. Die Untersuchungen zeigen die Änderungen der Oberflächeneigenschaften durch die Plasmabehandlung vor allem in Bezug auf die Adhäsionseigenschaften. Unter anderem lassen sich Bereiche nachweisen, an denen vermutlich Abbauprodukte angehäuft werden. Die Gefahr einer reduzierten Haftung an solchen Oberflächenbereichen muss in Beschichtungsversuchen überprüft werden.

Study of Aircraft-Specific Plasma-Treated Polyurethane Coating by Chemical Scanning Force Microscopy

Chemical scanning force microscopy is a technique in which a nanometer scale image of the surface is formed using a chemically-modified probe tip and an image-forming liquid. The technique and results obtained from it are presented in terms of a polyurethane coating over an aluminium substrate. Results reveal the effects of plasma treatment, especially in terms of its effect on adhesion. In addition, areas are found in which what are presumably residues of a breakdown product of a surface film, accrete. Although one might expect a danger of reduced adhesion in these areas, this was not observed, after carrying out tests.

Fähigkeiten

Substratmaterial


Schichtmaterial

Kunststoff
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