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Lackierfehler - Ursachenfindung mit moderner Schadensanalytik

Nach wie vor ist es trotz einer stetig steigenden Prozesssicherheit erforderlich, Fehler in Lackbeschichtungen zu analysieren und daraus folgend den Beschichtungsprozess zu verbessern. Oftmals führen schon die klassische Metallographie, eine Querschliffpräparation und die Lichtmikroskopie zum Erfolg. Schwierigere Aufgabenstellungen werden mit der Rasterelektronenmikroskopie (REM) gelöst, ergänzt um das Focused Ion Beam (FIB), mit dem sich in die Lackoberfläche hineinschneiden lässt. Die resultierenden Schnittflanken können sowohl abbildend als auch elementanalytisch mithilfe der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) auf erwünschte oder unerwünschte Lackinhaltsstoffe hin untersucht werden. Sind die Fehlerursachen im Substratwerkstoff begründet, kann sich der Einsatz eines 3D-Computertomographen (CT) lohnen. Anhand von Beispielen werden die einzelnen Verfahren und die daraus zu erhaltenden Ergebnisse vorgestellt.

Defects in paint coating – detection of causes with modern analytics

As before, despite a steadily increasing process reliability, it is necessary to analyse defects in paint coatings and consequently to improve the coating process. Often already the conventional metallography, a cross-cut preparation and light microscopy leads to success. More difficult tasks are solved with the scanning electron microscopy (SEM), supplemented by the Focused Ion Beam (FIB), which can be cutting into the paint surface. The resulting cutting edge can be analyzed for desired or undesired paint ingredients, both by mapping and element analysis using energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDX). Are the causes of defects based in the substrate material, the use of a 3D computed tomography (CT) may be worthwhile. Using examples, the individual processes and the results to be obtained therefrom are presented.

Fähigkeiten

Substratmaterial


Schichtmaterial

Lack
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