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Funktionelle Oberflächenparameter im Fokus
Bei der Technologie der strukturierten Beleuchtung wird ein Gitter mittels getakteter LEDs phasenverschoben auf die Bauteiloberfläche abgebildet, aufgenommen und der Kontrast ausgewertet. Durch Bewegung in der Fokuslage wird eine nanometergenaue Wiedergabe der tatsächlichen Oberflächenstruktur und über eine optimierte Auswertung Profil-, Oberflächen- und weitere quantitativen Messparameter entsprechend den Normvorgaben erzeugt. Die Auflösung liegt lateral bei etwa 300 nm und axial bei 3 nm, wobei die Messgeschwindigkeit acht optischen Schnitten pro Sekunde beträgt. Die Rauheitsmessungen mit den Rauheitsparametern Ra, Rq und Rz nach DIN EN ISO 4287/4288 sowie den Rauheitsparametern für Oberflächen mit plateauartigen funktionsrelevanten Eigenschaften nach DIN EN ISO 13565 können auf von der PTB zertifizierten Raunormalen rückführbar erfolgen.
WOMag 09/2015 Schlemm, Annette
Focus on Functional Surfaces
The technique of structured illumination involves forming the image of a mesh on the component surface being monitored, using sequentially activated LEDs with phase-shifting and evaluating the image contrast. By moving the focal plane, the surface can be characterised with nanometre precision in terms of its structure, surface profile and other surface characteristics as laid down in various Standards. Lateral resolution is around 300 nm, axial resolution is 3 nm with measurement rate of eight frames per second. Surface roughness measurements can be expressed as Ra, Rq, Rz as laid down in DIN EN ISO 4287/4288 as well as roughness parameters for surfaces with planar type functional properties as given in DIN EN ISO 13565 with these being traceable to roughness standards certified by the PTB.
